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Scanning Free Space Measurement System (Microwave Propagation Imager, MPI v1)
SFSM.mp4SFSM 시스템은 집중형 안테나를 이용한 자유공간 측정 시스템에 2축 선형 스테이지를 결합하여 스텔스 기술에 적용되는 전파흡수구조 등의 전자기적 성능 평가를 특징으로 하며, 스캔 전영역의 두께 방향 전자기적 특성을 가시화하여 결과 제시
스캔 범위 : 1000 x 1000 mm^2
측정 거리 : 430 ± 15 mm (at X-band)
표준 시편 테플론 (두께 : 3mm) 유전율 결과
-유전율 실수 (Dielectric constant) : 2.06 ± 2.35 %
-손실정접 (Loss tangent) : 0 ~ 0.0035