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High Temperature-Scanning Free Space Measurement, HT-SFSM system
RAS.mp4
HT-SFSM 시스템은 고온에서 재료의 전자기 물성 및 스텔스 구조의 전자기 성능을 측정할 수 있음을 특징으로 하며, 본 연구실에서 개발한 SFSM 시스템과 결합하여 고온에서 스캔 전영역의 두께 방향 전자기적 특성을 가시화하여 결과 제시